FIB薄片取出器
简介: 高精度 X- Y- Z- R- (T) 五自由度纳米手。图中所示五自由度纳米手应用非常广泛,除可用于FIB薄片取出器外(薄片用于TEM观测),还可进行许多其它的纳米级操纵实验。
产品概述:
移动范围:
X = 20 mm, Y = 20 mm, Z = 5mm,
R = unlimited, T = ± 10° (manual tilt variation).
可根据需求定制更大的移动范围或更多的活动轴(自由度)。
集成的线性编码器让用户任意时刻都能掌握纳米手的确切位置,该特点非常有利于针尖向感兴趣点的移动过程。 而且,位置点参数可以存储并调用,方便重复利用。
得益于严格的正交机械轴设计,用户进行操作时非常简易直观。
产品规格:
材质: |
铝, 不锈钢, 陶瓷 |
尺寸(mm, L x B x H): 重量: |
˜ 40 x 54 x 35 (cross table) ~100g. |
移动范围(mm): |
20 x 20 x 20 (XYZ-Modul) |
移动精度: |
< 10 nm |
移动速度范围: |
1000 µm/sec*. – 0,001 µm/sec. |
位置确定: |
线性编码器 |
控制器: |
微处理器控制器, 摇杆 |
外罩: |
桌面盒子 |
*= 可根据需求提供更高的速度
示例:
1:针尖接触薄片
2:针平滑地取出薄片
3:针和薄片近视图
4:薄片靠近TEM GRID
5:薄片焊接到GRID上
6:完成转移。