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FIB薄片取出器
简介： 高精度 X- Y- Z- R- (T) 五自由度纳米手。图中所示五自由度纳米手应用非常广泛，除可用于FIB薄片取出器外（薄片用于TEM观测），还可进行许多其它的纳米级操纵实验。
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16针IC微探针厢
简介： 本产品用于集成电路原型片测试
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