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简介： 结合扫描电镜或光学显微镜，该纳米操纵仪（纳米机械手）可实现原位的纳米级操纵、移动、切割、焊接、力学性能测量、电学性能测量等各种实验，广泛应用于纳米机器人、材料科学、生命科学、半导体等各领域。

简介： NMT-SEM纳米力学测试仪是一款可在SEM/FIB中对微纳米材料和结构的力学性能进行原位测量的纳米机械手系统。测试原理是通过压阻传感器探针对微纳结构施加一定的力,同时利用位移传感器来测量该结构的形变。从测得的力和位移曲线可以定量地分析微纳米结构的力学性能。通过控制加载力的大小和方向,可实现拉伸、压缩、断裂、疲劳和蠕变等各种力学测试。同时,其配备的导电样品测试平台可以对微纳米结构的电学和力学性能进行同步测试。

简介： K & W 提供两种EBIC分析版本。定量分析EBIC系统拥有丰富的测试和分析功能。它包含一个EBIC测试电路、一个扫描发生器、一个EBIC特制样品夹持器、一个法兰和分析软件。分析软件可进行多种分析，例如：灰度分析、线扫描、点测试、EBIC电流分析等等。 基本EBIC系统是一个简单的EBIC测试系统。它包含一个EBIC测试电路、一个EBIC特制样品夹持器和一个法兰。 该系统信号输出可连接到电镜“外部”输入接口。利用这个系统，电镜软件可以处理和控制EBIC图像。

简介： 高精度 X- Y- Z- R- (T) 五自由度纳米手。图中所示五自由度纳米手应用非常广泛，除可用于FIB薄片取出器外（薄片用于TEM观测），还可进行任何其它的纳米级操纵实验。

简介： 本产品用于集成电路原型片测试