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简介： K & W 提供两种EBIC分析版本。定量分析EBIC系统拥有丰富的测试和分析功能。它包含一个EBIC测试电路、一个扫描发生器、一个EBIC特制样品夹持器、一个法兰和分析软件。分析软件可进行多种分析，例如：灰度分析、线扫描、点测试、EBIC电流分析等等。 基本EBIC系统是一个简单的EBIC测试系统。它包含一个EBIC测试电路、一个EBIC特制样品夹持器和一个法兰。 该系统信号输出可连接到电镜“外部”输入接口。利用这个系统，电镜软件可以处理和控制EBIC图像。

简介： 高精度 X- Y- Z- R- (T) 五自由度纳米手。图中所示五自由度纳米手应用非常广泛，除可用于FIB薄片取出器外（薄片用于TEM观测），还可进行任何其它的纳米级操纵实验。

简介： 本产品用于集成电路原型片测试